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扫描电子显微镜(SEM)拉近了纳米微观世界和人类的距离，具有很大的放大倍率范围，既可以观察近似裸眼所看到的完整视野图像，也可以在非常高倍下观察纳米结构，扫描电子显微镜能够装配分析功能附件，进行亚微米区域的元素分析，扫描电子显微镜目前已经成为科学研究和工业生产不可缺少的工具。 JSM-6510LA分析型扫描电子显微镜标准装配了JEOL生产的EDS系统，可以同时进行图像观察和元素分析，低真空扫描电镜JSM-6510LA可以观察和分析不导电样品。
一、设备租赁简要说明
1、远景设备租赁：株式电子JEOL 扫描电子显微镜 JSM-6510LA
2、株式电子JEOL扫描电子显微镜 JSM-6510LA-设备简介
株式电子扫描电镜JSM-6510A/JSM-6510LA型与日本电子公司的元素分析仪（EDS）统合于一体，结构紧凑的EDS由显微镜主体系统的电脑控制，操作员只用一只鼠标，就可完成从图像观测到元素分析的整个过程。
JOEL JSM-6510扫描电子显微镜是一款高性能低价格的扫描电子显微镜，分辨率可达3.0nm。可按用户要求定做的操作接口便于用户直观操作仪器。SmileShot软件保证得到zui佳电子光学参数。
JSM-6510的LGS型大样品台和GS型普通样品台可分别装6英寸直径和32mm直径的样品。适合于多种测量功能。可在观察图像上直接进行测量，也可将测量结果贴至SEM图像，保存在文件中。
3、●设备基本参数●
二、设备特点
1、操作方便
样品室抽气完毕后即可开始图像观察。操作菜单简单易懂，用户无须花费很多时间去了解。简单点击高压(HT)图标打开电子源，电子源完全自动调整，用户马上可以开始观察图像。
2、测量功能
标准搭载多种测量功能，用户可以在显示的SEM图像上进行手动测量，并将测量结果保存。
3、样品导航系统
全对中样品台倾斜时观察区域和焦点改变最小，十分适合于从不同的方向观察表面粗糙的样品。无论是高倍率下的8mm工作距离，10mm的分析工作距离，还是大景深下的长工作距离，样品台都可以全对中。在X，Y移动或样品倾斜后旋转时焦点变化很小，观察大样品十分有效。全对中样品台可以完全观察直径为125mm的样品。
4、不导电样品无喷镀观察
JSM-6510LA装配了低真空模式，可以对不导电样品进行观察。用能谱仪(EDS)分析样品时，即使使用高加速电压也不用担心有放电影响。
5、高质量的图像
扫描电镜中的标准菜单列出了JEOL应用专家们建议的工作条件，帮助用户即时选择扫描电镜的最佳工作条件。当用户发现自己的样品有更好的工作条件时，可以保存在客户菜单中以便经常使用，也可以保存其他用户的工作条件。扫描电镜显示的图像因为加速电压的不同而变化。用户需要根据自己样品的密度和结构尺寸选择合适的电压(电子能量)来获取图像。
6、成分衬度
JEOL专利技术的高灵敏度背散射电子检测器可以获得成份像、形貌像和阴影像。检测器安装在物镜底部，用户无须自己动手插入或拔出。
7、三维视图（3D Sight）软件
扫描电镜和光学显微镜相比具有更大的景深和更高的分辨率，所以适合于复杂形貌的观察。三维视图(3D Sight)软件通过一对立体图像可以合成一幅俯视图。用户在俯视图上可以测量表面形貌的高度。
8、分析
JSM-6510LA分析型扫描电子显微镜配有JEOL开发生产的能谱仪(EDS)，和JSM-6510在同一个控制系统中。在观察SEM图像的同时可以在SEM显示器上随时进行EDS分析。
三、设备检测应用
JSM-6510系列扫描电子显微镜是一种热电子枪型的通用扫描电镜，通过结合标准配方可以满足广大用户的需求，可以通过多种选项（例如 Cryo）进一步扩展您的使用范围。
最低放大倍率下的观察视野超过25mm宽度，易于找到目标区域。不改变聚焦状态的条件下可以连续改变放大倍率，因此高倍下寻找目标区域既方便又快捷。使用1KV的低加速电压能够观察样品的表面精细结构。1kV左右的加速电压也可以对不导电样品进行无喷镀观察。
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